飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在 矿物加工中的应用进展-矿业114网 
首页 >> 文献频道 >> 矿业论文 >> 正文
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在 矿物加工中的应用进展
2019-12-30
TOF-SIMS 作为一种物质表面分析技术,可以用于物质表面的活性参数的测定。在简述 TOF-SIMS 的 工作原理、工作模式以及技术优势的基础上,对飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物加工中的应用进行了综 述。SIMS 技术作为一种质谱技术,具有独特的质谱性质,如百万分之一的灵敏度、同位素的区别、甚至可以对复杂 分子进行检测,为所有需要极端表面敏感性和表面分子信息的测定提供了可能。总结了 SIMS 技术在难免离子对 矿物表面性质的影响、表面润湿性以及表面吸附机理方面的应用进展。指出 TOF-SIMS 技术能够提供可靠的表面 化学数据,用于评价磨矿过程中矿物表面发生的各种反应、浮选过...
Series No. 522 金 属 METAL MINE 矿 山 总第 522 期 2019 年第 12 期 December 2019 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在 矿物加工中的应用进展 高 钦 葛英勇 管俊芳1 ( 武汉理工大学资源与环境工程学院,湖北 武汉 430070) 摘 要 TOF-SIMS 作为一种物质表面分析技术,可以用于物质表面的活性参数的测定。在简述 TOF-SIMS 的 工作原理、工作模式以及技术优势的基础上,对飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物加工中的应用进行了综 述。SIMS 技术作为一种质谱技术,具有独特的质谱性质,如百万分之一的灵敏度、同位素的区别、甚至可以对复杂 分子进行检测,为所有需要极端表面敏感性和表面分子信息的测定提供了可能。总结了 SIMS 技术在难免离子对 矿物表面性质的影响、表面润湿性以及表面吸附机理方面的应用进展。指出 TOF-SIMS 技术能够提供可靠的表面 化学数据,用于评价磨矿过程中矿物表面发生的各种反应、浮选过程造成各种矿物分离的因素、分析药剂的作用机 理。TOF-SIMS 技术在未来可以作为选择合适浮选药剂的手段,用来优化浮选过程的选择性和提高回收率,或帮助 设计适合特定矿物浮选所需的药剂。 关键词 飞行时间二次离子质谱 难免离子 接触角 吸附机理 中图分类号 X705 文献标志码 A 文章编号 1001-1250(2019)-12-113-05 DOI 10.19614/j.cnki.jsks.201912021 Advances in Application of TOF-SIMS in Mineral Processing 2 Gao Qin Ge Yingyong Guan Junfang ( School of Resources and Environmental Engineering,Wuhan University of Technology,Wuhan 430070,China) Abstract As a kind of material surface analysis technology,TOF-SIMS can determine the active parameters of material surface. Based on a brief description of the working principle,working mode and technical advantages of TOF-SIMS,the appli‐ cation of time of flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS)in mineral processing is reviewed. As a mass spectrome‐ try technology,SIMS technology has unique mass spectral properties, such as sensitivity of one per million, isotopic differentia‐ tion, and even detection of complex molecules, providing the possibility for determination of all extreme surface sensitivity and surface molecular information. The application progress of SIMS technology in the influence of unavoidable ions on mineral surface properties, surface wettability and surface adsorption mechanism was summarized. It is pointed out that the TOF-SIMS technology can provide reliable surface chemical data, which can be used to evaluate the various reactions on the mineral sur‐ face during the grinding process, the factors causing the separation of various minerals during the flotation process, and to ana‐ lyze the action mechanism of agents. In the future, TOF-SIMS technology can be used as means of selecting suitable agents to optimize the selectivity and increase recovery of flotation, or to help design agents suitable for specific mineral flotation. Keywords TOF-SIMS,Inevitable ion,Contact angle,Adsorption mechanism 矿物加工是一种包含磨矿、重选、浮选等工艺, 目的在于将有用矿物与脉石矿物分离的综合性学 究矿物和表面化学。二次离子质谱法(SIMS)是最灵 敏、最可靠的表面分析方法,它能收集和分析物质表 面被离子束轰击后从表面析出的二次离子。 [1] 科 。在磨矿、浮选过程中,矿物颗粒表面性质会发 生变化,因此,通过合适的分析手段研究矿物颗粒间 表面物理化学特性的差异至关重要。 飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)作为一种 独特的微区表面分析方法,已经应用于材料及生命科 [2] [3] [4] [5-6] 目前,有许多光谱和光谱分析技术可以用来研 学 、摩擦学 、生物学 等众多领域 。在矿物加工 收稿日期 高2019钦-1(01-93907—),女,硕士研究生。 作者简介 · 113 · 总第522期 金 属 矿 山 2019年第12期 领域,TOF-SIMS广泛应用于表面化学定性分析。 能量色散光谱仪)、AES(俄歇电子能谱仪)、AFM(原 子力显微镜)、XPS(X 光电子能谱仪)。这些技术是 建立在电子或 X 射线轰击产生的电子或光子的能量 分析的基础上的,这些电子或光子来自被研究样品 最上层的近表面原子,所以这些技术只能提供大量 被测样品最上层原子层的元素组成的信息,灵敏度 为0.001单分子层范围,横向分辨率最高为 1 nm。 SIMS 技术与这些传统技术有很大的不同。作为 一种质谱技术,它具有独特的质谱性质,如百万分之 一的灵敏度、同位素的区别、甚至可以对复杂分子进 国际上已经开展了较多利用 TOF-SIMS 技术研 究浮选过程的工作,但在我国相关研究报道较少。 本文拟对国内外 TOF-SIMS 技术在矿物加工研究中 的应用进展,特别是在金属矿中的应用进行较为系 统的介绍,总结该技术在矿物加工各流程阶段的应 用情况,以及在该领域应用中存在的问题,为 TOF- SIMS 技术在研究金属矿选矿方面的应用提供有益参 考。 1 TOF-SIMS基本原理 飞行时间二次离子质谱仪的主要构成及基本原 [8] 行检测(表1) 。 [7] 理见图 1 。离子源产生一次离子,一次离子经过加 速后,进入一次离子光学系统,经过一次离子光学系 统的聚焦和传输,轰击待分析样品表面产生二次离 子,二次离子经过二次离子提取系统的提取及聚焦 进入离子飞行管道,在离子飞行管道中,不同质荷比 的离子由于飞行速度不同实现了二次离子的分离, 检测器采集到这些离子的信号形成质谱数据,利用 数据分析软件对质谱数据进行分析可获得待分析样 [7] 品所含的成分信息 。TOF-SIMS 信号强度受离子在 矿物表面的浓度、离子溅射产率、基质效应(如离子 产率)和波束条件的影响。 SIMS 是一种基于发射带正电荷和负电荷的原子 和分子表面物质的表面敏感质谱分析方法。通过飞 行时间(TOF)仪器对这些二次离子的质量分析,保证 了平行质量配准、高质量范围、高传输时的高分辨率 和精确的质量测定。结合精细聚焦的初级离子束, 这导致了极高的灵敏度(1 ppm)与高深度(1 nm)和横 向(50 nm)分辨率相结合。由于其极高的灵敏度,再 加上它对大型复杂分子物种的独特敏感性,使得该 技术在许多高科技领域发挥着不可替代的作用,如 微电子、化学和材料科学,甚至还能应用于纳米技术 和生命科学领域,为所有需要极端表面敏感性和表 面分子信息的领域提供了可能。 2 TOF-SIMS工作模式 根据一次离子束的能量和性质,二次离子质谱 [8] 法可分为动态和静态 2 类 。在动态模式(D-SIMS) 下,高能直流电离子束连续去除表面材料,通过采样 分析产生深度剖面。该技术被认为是具有破坏性 的,但它可以提供有关样品基体组成的信息(典型的 分 析 样 品 深 度 约 为 几 微 米 级)。 在 静 态 模 式 下 4 难免离子对矿物表面性质的影响 [9] 陈哲 采用飞行时间二次离子质谱仪对磨矿处 理后的闪锌矿表面进行分析,结果表明,磨矿处理后 铁的氧化物和氢氧化物会附着于闪锌矿表面,球磨 介质的材料与尺寸大小对矿物表面存在的二次离子 种类和数量有较大影响。铸铁球比不锈钢球更容易 与硫化矿发生电化学反应,导致矿浆中铁离子含量 增高,从而在闪锌矿表面累积更多的铁的氧化物或 氢氧化物。使用 12.7 mm 的小球比 25.4 mm 的大球更 能促进磨矿环境下的电化学反应。同样引起铁的氧 化产物在闪锌矿表面富集。使闪锌矿表面附着一层 ( SSIMS 或更常见的 TOF-SIMS),通过低能量的脉冲 离子束去除表面材料。在分析过程中,通常样品只 有不到 0.1% 的原子位点参与了离子束的相互作用。 离子相互作用导致极低的溅射速率,大约是每小时 一层的速度,因此该技术被认为是无损的。 3 TOF-SIMS的优势 传统的用于化学表面分析的技术有 EDX(X射线 · 114 · 高 钦等:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物加工中的应用进展 2019年第12期 [9] 回收(图2) 。 亲水层,进而降低铜离子的吸附,弱化闪锌矿的浮选 [ 10] Peng 和 Grano 使用 TOF-SIMS 分析了用不同 磨矿介质处理后,不同尺寸方铅矿、黄铜矿表面特定 离子的归一化峰强度。对于方铅矿,当使用含氧净 化的低碳钢介质时,细颗粒(<10 μm)上的 O、Fe 和 Fe(OH)的归一化峰强度远高于中间颗粒,方铅矿细 颗粒表面吸附了较多的铁氧化物,这与方铅矿细颗 粒浮选回收率较低相一致。相比之下,当使用 30% 的含氮净化的铬介质时,O、Fe和 Fe(OH)的归一化峰 强度在方铅矿细颗粒和中间颗粒上分布是相似的, 这表明这些颗粒表面存在类似数量的铁氧化物。在 此条件下,方铅矿细、中颗粒的浮选回收率相近。 对于黄铜矿,当使用 30% 的含氮净化的铬介质 磨矿时,细粒级黄铜矿颗粒表面的 O、Fe和Fe(OH)的 归一化峰强度比中间粒级的高。这可能导致细粒级 黄铜矿上浮量少,即由于研磨介质引起了铁的污染。 当使用氧气净化的低碳钢介质时,细黄铜矿颗粒上 的O、Fe和Fe(OH)的归一化峰强度进一步增强,导致 浮选过程中细粒级黄铜矿被抑制。 的二次离子是否具有疏水性的特征。在浮选环境 中,过量的“疏水离子”或“亲水离子”可作为识别导 [12] 致特定颗粒是否上浮的主要表面化学物质 ,从这 些离子中获取的 TOF-SIMS 信号强度可以作为一种 定性指示工具,用来估计矿物的表面润湿性。TOF- SIMS 可以用来对静态和动态接触角进行测试,并且 只需要非常少量的样品,不需要与液体接触或任何 预处理。 [13] 在 Susana Brito e Abreu 的研究中,飞行时间二 次离子质谱(TOF-SIMS)被用于建立黄铜矿颗粒表面 化学性质与其接触角的关系。实验中用到 3 种粒级 的矿物颗粒(20~38 μm、75~105 μm 和 150~210 μm), 覆盖接触角的范围从 20°到 90°。应用多元统计技术 对 TOF-SIMS 数据进行统计分析,以确定数据的结构 和对表面化学变化贡献最大的表面物质,从而确定 疏水性的变化。仅通过收集氧、硫和硫醇捕收剂这 3 种二次离子的信息,建立了利用 TOF-SIMS 表面分析 [13] 计算黄铜矿接触角的方法。图 3 为 O、S和 C7H7O的 TOF-SIMS信号的归一化强度与接触角的关系。 将 TOF-SIMS 研究结果和浮选结果对比,发现铁 的污染仍然是影响方铅矿和黄铜矿浮选的主要因 素。在浮选过程中,细粒级和中间粒级颗粒的可浮 性差异与表面铁氧化物的含量直接相关。 [11] Chapman 等 研究了高压辊磨(HPGR)与棒磨 ( 干法和湿法)联合粉碎对铂族矿砂(PGMs)间歇浮选 试验的影响。结果表明,采用高压辊磨—干磨工艺 后,PGMs 的回收率和品位均有所下降。TOF-SIMS 分析结果表明,棒磨(湿磨和干磨)后浮选的精矿产 品中黄原酸盐和二硫代磷酸钠含量均有所增加,亲 水性抑制剂(钙、镁、硅和铝)含量略低于原矿和尾矿 产品。 利用 TOF-SIMS 间接计算接触角与传统的接触 角测定方法相比,具有多方面的优点,例如可以忽略 颗粒尺寸大小,对不同颗粒表面(少量样品)的接触 5 表面润湿性 TOF-SIMS 可以作为一种确定矿物表面接触角 的新方法。通过 TOF-SIMS 可以准确识别矿物表面 · 115 · 总第522期 金 属 矿 山 2019年第12期 角进行预测。因此,不需要对矿物作粒度的预处理, 可以直接对不同粒度大小的矿物颗粒进行测试。这 种测试方法还能够确定表面离子对单个矿物颗粒接 触角的贡献,以及接触角在一个大的粒子群中的分 在 TOF-SIMS 谱中没有 Fe-IPOPECTU 片段,这些发 现表明IPOPECTU只与黄铜矿表面的铜原子结合。 另外,TOF-SIMS 还可以对抑制剂作用机理进行 研究。Huang Peng 研究了高分子聚丙烯酰胺(PAM) 对黄铜矿和方铅矿的抑制机理,试验中使用 EDTA 作 清洗剂去除方铅矿表面的铜离子,采用 TOF-SIMS 对 EDTA 在方铅矿和黄铜矿混合浮选中的表面清洗效 [13] 布,适用于多种矿物同时存在的体系。Brito 发现 对粒度范围为 53~75 μm 的黄铜矿进行接触角测定, TOF-SIMS 预测的接触角值与接触角直接测定值有 较好的相关性。 [20] 果进行了验证 。通过测定金属离子和 PAM 在矿物 表面的分布,可以检测 PAM 对方铅矿或黄铜矿表面 的选择性吸附。TOF-SIMS 测定表明,使用 EDTA 清 洗前,当方铅矿和黄铜矿同时存在时,PAM 吸附在方 铅矿和黄铜矿表面。通过对 EDTA 清洗前后 TOF- SIMS 结果的比较,证明了 EDTA 对方铅矿表面吸附 铜离子的去除效果。通过接触角测量和 XPS 测量结 果也可以看出,PAM 与 KEX 联合使用可以使 PAM 选 择性地吸附在黄铜矿表面,而不吸附在方铅矿表面。 通过单一的 TOF-SIMS 测试手段就可以直接解 释药剂与矿物的作用机理,相比于传统的多重手段 联合使用更直观、更便捷。 [14] Muganda 等 提出了一种可行的确定硫化物矿 物颗粒接触角的方法。在一定条件下,对斑岩铜矿 进行了分批浮选试验。根据所建立的校准曲线对按 粒度分级的浮选响应进行了基准测试,以推断硫化 物矿物的接触角与粒度的关系。通过对精矿接触角 的独立测量,以及对黄铜矿使用飞行时间二次离子 质谱(TOF-SIMS)的间接测试方法,验证了所推断的 硫化物矿物的接触角值。 6 表面吸附机理 目前,红外光谱是矿物加工领域研究药剂作用 [15] 机理最重要的手段之一 ,但利用红外光谱解释药 7 结论与展望 矿物加工中存在很多复杂的过程,由于矿物表 剂作用机理存在一定的局限性。红外光谱在浮选药 [16] 剂作用机理解释中的应用主要存在 3个问题 :一是 无法准确区分药剂与矿物表面是化学吸附还是化学 反应;二是红外光谱仪自身产生的背景误差会影响 作用机理的分析结果;三是红外光谱作为单一手段 时,无法清晰地解释多种混合药剂的作用机理。 相对于红外光谱而言,利用 TOF-SIMS 光谱可以 更好地对某些浮选试剂在矿物表面的吸附机理进行 面最上层的单分子层在选择性浮选中起着至关重要 的作用,因此对浮选过程中矿物的表面化学特性进 行详细的评价是必不可少的。TOF-SIMS 技术能够 提供可靠的表面化学数据,用于评价浮选过程中造 成各种矿物分离的因素。通过 TOF-SIMS 技术可以 对磨矿过程中矿物表面发生的各种反应进行验证; 通过建模可以建立 TOF-SIMS 测试结果与表面接触 角之间的关系,以评估表面接触角与表面化学之间 的可能相关性;除此之外,TOF-SIMS 分析还能解释 药剂的作用机理。TOF-SIMS 技术也有一些缺点:比 传统方法更昂贵和耗时,需要对其他类型的矿物和 材料进行新的校准。 [17-18] 研究 。有学者利用TOF-SIMS光谱法分析了AMT 在黄铜矿表面的吸附形式,通过记录所有元素的高强 [19] 度片段,阐述了 AMT 在黄铜矿表面的作用机理 。 在 TOF-SIMS 光谱中没有发现 AMT-Fe 的片段,说明 Fe 不是吸附 AMT 的活性位点,这与 X 射线光电子谱 中吸附了 AMT 的黄铜矿表面 Fe的 2p信号是一致的。 2 + 63 + 虽然 TOF-SIMS 在矿物加工领域进行的研究数 量有限,但迄今已发表的文献足以说明 TOF-SIMS 技 术在矿物加工中的应用很成功。TOF-SIMS 技术在 未来可以作为选择合适浮选药剂的手段,用来优化 浮选作用的选择性和回收率,或帮助设计适合特定 矿物浮选所需的药剂,TOF-SIMS 表面化学分析可能 成为评价和设计浮选工艺不可或缺的手段。 除 此 之 外 ,AMT - Cu 复 合 物 C2H4N4S( Cu 179)、 C2H4N4S( Cu 181)、N( CuS)SCNC−(m/z 179)、 6 5 + 63 6 5 − N( CuS)SCNC(m/z 181)的所有片段均在吸附了 AMT 的黄铜矿表面被检测到,充分证明 AMT 吸附在 黄铜矿表面,形成了 AMT-Cu 配合物,与 XPS 测试结 果一致。 Liu Guangyi等采用 TOF-SIMS对 IPOPECTU 吸附 [17] 后的黄铜矿表面进行了表征 。光谱分析结果表 明,IPOPECTU吸附后,黄铜矿表面以 IPOPECTU的分 子片段为主。此外,Cu-IPOPECTU 片段也出现在黄 参 考 文 献 [ 1] 叶贵川,马力强,黄 根 .正电子发射型颗粒追踪技术在矿物加 6 3 65 铜矿表面。另外,含有 Cu 和 Cu 的 IPOPECTU 复合 碎片是成对的,与铜同位素的丰度比相似。同样的, 工中的应用[J].煤炭工程,2018,50(11):131-135. Ye Guichuan,Ma Liqiang,Huang Gen. Application of positron · 116 · 高 钦等:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物加工中的应用进展 2019年第12期 emission particle tracking technology in mineral processing[J]. Coal Engineering,2018,50(11):131-135. grinding media on the flotation of sulphide minerals of different par‐ ticle size[J]. International Journal of Mineral Processing,2010,97 (1):1-6. [ 2] 孙立民 .飞行时间二次离子质谱在生物材料和生命科学中的应 用(上)[J].质谱学报,2012,33(1):56-61. [11] Chapman N A,Shackleton N J,Malysiak V,et al. The effect of us‐ ing different comminution procedures on the flotation of platinum- groupminerals[J]. Minerals Engineering,2011(24):731-736. [12] Ralston J.,Fornasiero D.,Grano S.,et al. Reducing uncertainty in mineral flotation—flotation rate constant prediction for particles in an operating plant ore[J]. International Journal of Mineral Process‐ ing,2007,84(1):89-98. Sun Limin. Applications of time-of-flight secondary ion mass spec‐ trometry(tof-sims)in biomaterials and life science(part Ⅰ)[J]. Journal of Chinese Mass Spectrometry Society,2012,33(1):56-61. [ 3] 丛培红,李同生,刘旭军,等 . 飞行时间二次离子质谱在摩擦学 领域中的应用[J].摩擦学学报,2007,27(6):593-597. Cong Peihong,Li Tongsheng,Liu Xujun,et al. Application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry in tribology[J].Jour‐ nal of Tribology,2007,27(6):593-597. [13] Susana Brito e Abreu,Brien Chris,Skinner William. TOF-SIMS as a new method to determine the contact angle of mineral surfaces [J]. Langmuir,2010,26(11):8122-8130. [ 4] Satoka Aoyagi. Review of TOF-SIMS bioanalysis using mutual infor‐ mation[J]. Surface Interface Analalysis,2009,41(7):136-142. [14] Muganda S,Zanin M,Grano S R. Benchmarking the flotation perfor‐ mance of ores[J]. Minerals Engineering,2012(26):70-79. [15] 叶军建,张 覃,侯 波,等 . 显微-反射傅里叶变换红外光谱 研究油酸钠与胶磷矿吸附机理[J]. 光谱学与光谱分析,2018, 38(10):3036-3040. [ 5] 王光谱 . 当代 TOF-SIMS 在航天器污染分析中的可能应用[D]. 北京:清华大学,2005. Wang Guangpu. Spacecraft Contamination Analysis-A Possible Ap‐ plication of Modern TOF-SIMS[D]. Beijing: Tsinghua University, 2 015. Ye Junjian,Zhang Qin,Hou Bo,et al. The adsorption mechanism of sodium oleate and collophosphate was studied by micro-reflec‐ tion Fourier transform infrared spectroscopy[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis,2018,38(10):3036-3040. [ 6] 倪润祥,李 红,伦小秀,等 . 飞行时间二次离子质谱技术在大 气气溶胶研究中的应用进展[J]. 安全与环境学报,2012,12 (10):116-117. Ni Runxiang,Li Hong,Lun Xiaoxiu,et al. Application advance review on the time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the field of atmospheric aeroso[l J]. Journal of Safety and Environment, [16] 许鹏云,李 晶,陈 洲,等 . 红外光谱分析技术在浮选过程中 的应用研究进展[J]. 光谱学与光谱分析,2017,37(8):2389- 2396. 2 012,12(10):116-117. Xu Pengyun,Li Jing,Chen Zhou,et al. Advances in the applica‐ tion of infrared spectroscopy in flotation[J].Spectroscopy and Spec‐ tral Analysis,2017,37(8):2389-2396. [7] 陶 强 . TOF-SIMS 控制软件的研究与开发[D]. 长春:吉林大 学,2014. Tao Qiang. Research and Development of TOF-SIMS Control Soft‐ ware[D]. Changchun: Jilin University,2014. [17] Liu Guangyi,Qiu Zhaohui,Wang Jingyi,et al. Study of N-isopro‐ poxypropyl-N'-ethoxycarbonyl thiourea adsorption on chalcopyrite using in situ SECM,TOF - SIMS and XPS[J]. Journal of Colloid and Interface Science,2015(7):42-49. [ 8] 阿尔弗来德·贝宁豪文,查良镇 . 飞行时间二次离子质谱——强 有力的表面-界面和薄膜分析手段[J]. 真空,2002,39(5):10- 1 4. [18] Chelgani S Chehreh,Hart B,Marois J,et al. Study of pyrochlore surface chemistry effects on collector adsorption by TOF-SIMS[J]. Elsevier Ltd,2012(39):71-76. A Benning Hoven,Cha Liangzhen. TOF-SIMS A powerful tool for practical surface,interface and thin film analysis[J]. Vacuum, 2 002,39(5):10-14. [19] Yin Zhigang,Hu Yuehua,Sun Wei,et al. Adsorption mechanism of 4-amino-5-mercapto-1,2,4-triazole as flotation reagent on chal‐ copyrite[J]. Langmuir ,2018(34):4071-4083. [9] 陈 哲 . 磨矿环境对铜锌矿矿浆性质及矿物表面化学性质的影 响[D]. 武汉:武汉工程大学,2017. Chen Zhe. Effects of Grinding Environment on Pulp Properties and Surface Chemical Properties of Copper and Zinc Ores[D]. Wuhan: Wuhan Institute of Technology,2017. [20] Huang Peng ,Wang Lei,Liu Qi. Depressant function of high mo‐ lecular weight polyacrylamide in the xanthate flotation of chalcopy‐ rite and galena[J]. Elsevier B V,2014(8):6-15. [ 10] Peng Yongjun,Grano Stephen. Effect of iron contamination from (责任编辑 王亚琴) · 117 ·
  • 中矿传媒与您共建矿业文档分享平台下载改文章所需积分:  5
  • 现在注册会员立即赠送 10 积分


皖公网安备 34050402000107号